Sporenanalyse - SIMS, ToFSIMS en ICPMS

Sporenanalyses zijn bedoeld om onzuiverheden in zeer geringe concentraties op te sporen en kunnen zo een vitale rol in uw kwaliteitscontrole vervullen. Sporenanalyses zijn vooral belangrijk bij de productie van halfgeleiderapparatuur omdat zelfs de miniemste verontreinigingen al tot slecht of niet werkende producten kunnen leiden.

Sporenanalyses van SGS bieden een betrouwbare, gespecialiseerde service en vormen een fundamenteel onderdeel van de kwaliteitscontrole bij het fabricageproces. Onze ervaren medewerkers maken gebruik van zeer geavanceerde apparatuur om ook uiterst geringe onzuiverheden op te sporen waardoor uw product minder betrouwbaar of helemaal niet zou werken. Wij voeren de volgende ultragevoelige testprocedures uit:

secundaire ionen-massaspectrometrie (SIMS) - aantonen van verontreinigingen in zeer lage concentraties
Time-of-Flight SIMS (ToF–SIMS) – opsporen van verontreinigingen aan het oppervlak
Inductief gekoppelde plasma-massaspectrometrie (ICPMS), ondersteund met dampfase-decompositie (VPD) of pack-extractionmethode (PEM) - uiterst gevoelig voor een groot aantal elementen

Neem contact op met SGS en ontdek hoe u met onze sporenanalyse de kwaliteit en betrouwbaarheid van uw producten kunt verbeteren.