Análisis de materiales semiconductores

Comprender la composición y las propiedades de los materiales semiconductores es esencial para garantizar la calidad y el rendimiento. Ofrecemos una gama de técnicas avanzadas de análisis de materiales para examinar los materiales semiconductores a nivel atómico y molecular. Desde la microscopía de fuerza atómica hasta la espectrometría de masas de iones secundarios dinámica, nuestros servicios te ofrecen información detallada para satisfacer tus necesidades de caracterización de materiales.

Garantiza la calidad y el rendimiento de tus materiales semiconductores

Te ofrecemos:

Obtén información detallada

Utiliza técnicas avanzadas de análisis de materiales para examinar materiales semiconductores a nivel atómico y molecular.

Identifica la composición del material

Determina la composición y las propiedades de los materiales semiconductores con precisión y exactitud.

Mejora el desarrollo de productos

Aprovecha los conocimientos que te aporta el análisis de materiales para mejorar la calidad y el rendimiento de tus productos semiconductores.

Descubre nuestra gama de servicios de análisis de materiales semiconductores

Ofrecemos una amplia gama de servicios de análisis de materiales semiconductores, entre los que se incluyen:

• Microscopio de fuerza atómica (AFM)
• Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM)
• Microscopio electrónico de transmisión (MET)
• Análisis con microsonda de electrones (EPMA)
• Espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDX)
• Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
• Espectroscopia de electrones de Auger (AES)
• Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
• Espectrometría de masas de iones secundarios con tiempo de vuelo (TOF-SIMS)
• Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier (FT-IR)
• Difracción de rayos X (DRX)
• Perfil de resistencia a la propagación (SRP)
• Espectrometría de masas dinámica de iones secundarios (D-SIMS)