Producătorii de semiconductori se confruntă cu provocarea majoră de a se asigura că produsele lor sunt fiabile atât ca unități individuale, cât și la nivel de placă. Aderarea la standardele JEDEC este esențială pentru a respecta cerințele industriei și pentru a asigura longevitatea și performanța produselor.
Echipa noastră dedicată de ingineri cu înaltă calificare, alături de instalațiile de testare de ultimă generație, ne permit să oferim o gamă completă de servicii de testare a fiabilității. Suntem specializați pe o gamă largă de teste de fiabilitate, inclusiv teste de mediu, cicluri termice și teste de anduranță, pentru a ne asigura că semiconductorii dvs. îndeplinesc cele mai înalte standarde de fiabilitate.
Vă oferim posibilitatea să:
- Obțineți acces pe piață
Navigați cu încredere prin cerințele complexe de reglementare.
- Confirmați conformitatea
Asigurați-vă că produsele dumneavoastră respectă standardele JEDEC prin teste riguroase.
- Prelungiți durata de viață a produsului
Îmbunătățiți durabilitatea și performanța semiconductorilor dumneavoastră prin testarea duratei de viață.
- Suită cuprinzătoare de testare
Beneficiați de o gamă largă de teste de fiabilitate, inclusiv de mediu, de ciclu termic și de durabilitate mecanică.
Serviciile noastre de testare a fiabilității semiconductorilor includ:
- JESD47: Calificarea circuitelor integrate în funcție de testele de stres
- JESD22-A113: Precondiționarea dispozitivelor neermetice cu montare pe suprafață, înaintea testării fiabilității
- JESD22-A108: Test de durată de viață în funcționare la temperaturi înalte/joase (HTOL/LTOL)
- JESD22-A103: Test de durată de viață la stocare la temperaturi înalte/joase (HTS)
- JESD22-A119: Test de durată de viață la stocare la temperaturi joase (LTS)
- JESD22-A104: Ciclul de temperatură (TC)
- JESD22-A105: Test de ciclu de alimentare și temperatură (PTC)
- JESD22-A101: Test de fiabilitate la temperatură și umiditate cu polarizare electrică (THB)
- JESD22-A110: Test de stres accelerat la temperatură și umiditate ridicate (HAST)
- JESD22-A118: Test accelerat de stres la temperatură și umiditate, fără polarizare (UHAST)
- JEDEC JS-001, JS-002 și JESD78: ESD și Testul Latch-Up (HBM/MM/CDM/Latch-Up)
- Seria JESD22-B: Test de fiabilitate la nivel de placă (BLR TC, BLR Bend, etc.)
- SAE J1752/3: Compatibilitatea electromagnetică (EMC)
Testarea de top a fiabilității semiconductorilor pe plan mondial
În calitate de lider global în inspecție, certificare și testare, oferim expertiză de neegalat în ceea ce privește fiabilitatea semiconductorilor. Profesioniștii noștri experimentați furnizează servicii personalizate adaptate nevoilor dumneavoastră specifice, asigurându-se că semiconductorii dumneavoastră respectă cele mai înalte standarde de calitate și fiabilitate. Începem cu o analiză amănunțită a nevoilor, pentru a dezvolta o strategie de testare personalizată. Dotările noastre de ultimă generație și angajamentul de a rămâne în avangarda noutăților din industrie vă asigură că veți primi cele mai exacte și fiabile servicii de testare disponibile.
Sunteți gata să confirmați fiabilitatea semiconductorilor dvs.?
Contactați-ne astăzi pentru a afla mai multe despre serviciile noastre de testare a fiabilității semiconductorilor și despre modul în care vă putem ajuta să obțineți conformitatea și să îmbunătățiți performanța produsului.