A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) és transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM) szabványos képalkotó technikák mikroelektronikai eszközök elemzésére, és lényeges eszközök az Ön minőségellenőrzési folyamatai, hibaelemzései és fejlesztést célzó kutatásai során.
Mindkét technika alkalmazható keresztmetszeteken az eszközök függőleges szerkezetének vizsgálata érdekében. A keresztmetszeteket különféle módokon is el lehet készíteni. A fókuszált ionsugaras (FIB) - gyakran SEM-meg együtt - megmunkálás az egyik leggyakrabban alkalmazott technikává lépett elő.
Az SGS specializálódott szolgáltatásai közé tartoznak a SEM és TEM keresztmetszeti vizsgálatok. Tapasztalt személyzetünk nagy teljesítményű felszereléssel dolgozik, hogy rendkívül részletes képeket biztosíthassanak akkor, amikor nagyobb felbontású képre van szüksége, mint amit egy optikai mikroszkóp tud nyújtani.
SEM és TEM keresztmetszeti vizsgálatokat használunk számos elemzési célra, köztük:
- Fizikai hibaelemzés
- Szerkezeti elemzés
- Visszatervezés
Lépjen kapcsolatba az SGS-sel, és tudjon meg többet arról, hogy SEM és TEM keresztmetszeti vizsgálataink mennyire lényeges eszközök terméke minőségellenőrzése során.