Mit keres?

Nyomelemzés - SIMS, ToFSIMS és ICPMS

Nyomelemzés segítségével észleljük a nagyon kis mennyiségben előforduló szennyeződéseket is, ez minőségellenőrzése folyamatában lényeges szerepet tölthet be. Ez fontos a félvezető termékek gyártása során, mert a nyomnyi mennyiségű szennyeződések csökkenthetik a teljesítményt, akár hibásodáshoz is vezethetnek.

Az SGS nyomelemzése egy megbízható, szakértői szolgáltatás, ami gyártása minőségellenőrzésében alapvető szerepet játszik. Tapasztalt személyzetünk nagy teljesítményű felszerelést használ, hogy kimutassa azon nyomnyi szennyeződéseket, amelyek terméke meghibásodásához vagy a teljesítmény csökkenéséhez vezethetnek. Rendkívül pontos vizsgálati folyamatokat használunk:

  • Másodlagos ion tömegspektrometria (SIMS) - nagyon kis koncentrátumú szennyeződéseket azonosít 
  • Repülési idő SIMS (ToF-SIMS) - felszíni szennyeződéseket észlel
  • Induktív csatolású plazma tömegspektrometria (ICPMS) gőzfázisú leválasztással (VPD) vagy csomag-extrakciós módszerrel (PEM) támogatva - rendkívül pontos elemek széles körében

Lépjen kapcsolatba az SGS-sel és tudja meg, hogy nyomelemzéseink hogyan javítják termékei minőségét és megbízhatóságát.

Kapcsolódó szolgáltatások

Lépjen velünk kapcsolatba!

  • SGS Hungária Kft.

Sirály utca 4,

, 1124,

Budapest, Magyarország