Analyse de traçabilité - SIMS, ToFSIMS et ICPMS

L'analyse de traçabilité nous permet de détecter les impuretés en très faibles concentrations et peut jouer un rôle vital dans votre procédure de contrôle qualité. C'est important dans la production de dispositifs semi-conducteurs, car même des traces de contamination peuvent réduire le rendement ou même provoquer une panne.

L'analyse de traçabilité effectuée par SGS offre un service de confiance spécialisé telle une partie fondamentale de votre contrôle de la qualité de fabrication. Notre personnel expérimenté travaille avec des équipements performants pour identifier les traces d'impuretés qui pourraient causer un dysfonctionnement de votre produit ou réduire sa fiabilité. Nous réalisons des procédures de test hautement sensibles en utilisant :

• Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS) - identifie les impuretés en très faible concentration 
• Temps de vol SIMS (ToF-SIMS) - détecte les impuretés de surface
• spectroscopie de masse de plasma à couplage inductif (ICPMS) soutenu par la décomposition en phase vapeur (DPV) ou la méthode d'extraction de pack (MEP) - très sensible pour un large éventail d'éléments

Contactez SGS pour savoir comment notre analyse de traçabilité peut améliorer la qualité et la fiabilité de vos produits.