Hivenaineanalyysi mahdollistaa epäpuhtauksien löytämisen hyvin alhaisissa pitoisuuksissa ja voi osoittautua elintärkeäksi tekijäksi laadunvalvontaprosessissasi. Se on tärkeää puolijohdekomponenttien tuotannossa, koska jopa epäpuhtauden häviävän pienet määrät voivat alentaa tulosta tai vieläpä aiheuttaa sen epäonnistumisen.
SGS:n hivenaineanalyysi tarjoaa luotettavan erikoistuneen palvelun oleellisena osana laadunvalvontamenetelmääsi. Kokenut henkilökuntamme tekee töitä huippulaatuisten laitteiden kanssa paikantaakseen hyvinkin pieniä epäpuhtauksia, jotka voisivat aiheuttaa tuotteellesi toimintahäiriön tai vähentää sen luotettavuutta. Suoritamme erittäin herkkiä testiprosesseja, joissa käytämme:
- sekundaariionimassaspektrometriamenetelmää (SIMS) – se tunnistaa epäpuhtaudet erittäin alhaisissa pitoisuuksissa
- Time-of-Flight SIMS (ToF–SIMS) – löytää pinnan epäpuhtaudet
- induktiivisesti kytkettyä plasmamassaspetrometrimenetelmää (ICPMS) tuettuna VPD-menetelmällä (vapor phase decomposition) tai PEM-menetelmällä (pack-extraction method) – erittäin herkkä laajalle valikoimalle elementtejä
Ota meihin yhteyttä, niin kerromme, miten hivenaineanalyysi voi edistää tuotteidesi luotettavuutta ja laatua.