Анализът на микроелементите ни позволява да открием примеси в много ниски концентрации и може да изиграе изключително важна роля във вашата процедура за контрол на качеството. Това е важно при производството на полупроводникови устройства, тъй като дори незначителни количества примеси могат да намалят производителността или дори да причинят неизправност.
Анализът на микроелементите от SGS ви предлага надеждна специализирана услуга като основна част от вашия контрол на качеството при производството. Нашият опитен персонал работи с висококачествено оборудване, за да може точно да установи примесите, които биха довели до неизправност на вашите продукти или биха могли да намалят тяхната надеждност. Ние провеждаме силно чувствителни процедури на тестване, като използваме:
- Вторична йонна масспектрометрия (SIMS) - открива примеси в много ниски концентрации
- "Време на полет" SIMS (ToF–SIMS) – открива повърхностни примеси
- Масспектрометрия с индуктивно свързана плазма (ICPMS), в комбинация с разпад при парна фаза (VPD) или метод за екстракция в пакети (PEM) – силно чувствителни към широк спектър от елементи
Свържете се с SGS, за да откриете как нашият анализ на микроелементите може да подобри качеството и надеждността на вашите продукти.
бул. Цариградско Шосе 115Г Мегапарк, етаж 6, зона С София, 1784 България,
, 1784,
София, България